由于絕緣電阻測量的局限性，所以在絕緣試驗中就出現(xiàn)了測量泄漏電流的項目。關(guān)于泄漏電流的概念在上節(jié)中已加以說明。測量泄漏電流所用的設(shè)備要比兆歐表復(fù)雜，一般用
高頻直流高壓發(fā)生器進行測試。由于試驗電壓高，所以就容易暴露絕緣本身的弱點，用高頻直流高壓發(fā)生器直測泄漏電流，這可以做到隨時進行監(jiān)視，靈敏度高。并且可以用電壓和電流、電流和時間的關(guān)系曲線來判斷絕緣的缺陷。它屬于非破壞性試驗。由于電壓是分階段地加到絕緣物上，便可以對電壓進行控制。當(dāng)電壓增加時，薄弱的絕緣將會出現(xiàn)大的泄漏電流，也就是得到較低的絕緣電阻。
測量泄漏電流的原理和測量絕緣電阻的原理本質(zhì)上是*相同的，而且能檢出缺陷的性質(zhì)也大致相同。但由于泄漏電流測量中所用的電源一般均由高頻直流高壓發(fā)生器供給，并用高頻直流高壓發(fā)生器直接讀取泄漏電流。因此，它與絕緣電阻測量相比又有自己的以下特點：
（1）試驗電壓高，并且可隨意調(diào)節(jié)。測量泄漏電流時是對一定電壓等級的被試設(shè)備施以相應(yīng)的試驗電壓，這個試驗電壓比兆歐表額定電壓高得多，所以容易使絕緣本身的弱點暴露出來。因為絕緣中的某些缺陷或弱點，只有在較高的電場強度下才能暴露出來。
（2）泄漏電流可由高頻直流高壓發(fā)生器隨時監(jiān)視，靈敏度高，測量重復(fù)性也較好。
（3）根據(jù)泄漏電流測量值可以換算出絕緣電阻值，而用兆歐表測出的絕緣電阻值則不可換算出泄漏電流值。因為要換算先要知道加到被試設(shè)備上的電壓是多少，兆歐表雖然在銘牌上刻有規(guī)定的電壓值，但加到被試設(shè)備上的實際電壓并非一定是此值，而與被試設(shè)備絕緣電阻的大小有關(guān)。當(dāng)被試設(shè)備的絕緣電阻很低時，作用到被試設(shè)備上的電壓也非常低，只有當(dāng)絕緣電阻趨于無窮大時，作用到被試設(shè)備上的電壓才接近于銘牌值。這是因為被試設(shè)備絕緣電阻過低時，兆歐表內(nèi)阻壓降使“線路”端子上的電壓顯著下降。
（4）可以用u-t的關(guān)系曲線并測量吸收比來判斷絕緣缺陷。在高頻直流高壓發(fā)生器直流高壓作用下，當(dāng)絕緣受潮或有缺陷時，電流隨加壓時間下降得比較慢，zui終達到的穩(wěn)態(tài)值也較大，即絕緣電阻較小。
更新時間：2016-08-05
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直流高壓發(fā)生器
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